從熱力學的觀點來看，非晶態(tài)結(jié)構(gòu)傾向于結(jié)晶。可以認為，在電阻器工作期間，這兩個過程以近似恒定的速度進行。與之相關的電阻變化占原始電阻的千分之幾。直流負載-電解：在直流負載下，電解導致電阻器老化。濕熱環(huán)境下的直流負載試驗可以綜合評價電阻基體材料和薄膜的抗氧化性或抗還原性，以及保護層的防潮性能。
薄膜電阻的導電膜一般采用氣相沉積的方法獲得，并且在一定程度上存在非晶態(tài)結(jié)構(gòu)。從熱力學的觀點來看，非晶態(tài)結(jié)構(gòu)傾向于結(jié)晶。在工作或環(huán)境條件下，導電膜中的非晶結(jié)構(gòu)趨向于以一定速度結(jié)晶，即導電材料的內(nèi)部結(jié)構(gòu)趨向于致密化，這通常會導致電阻值降低。結(jié)晶速率隨溫度的升高而增大，電阻絲或電阻膜在制備過程中會承受機械應力，導致其內(nèi)部結(jié)構(gòu)變形。金屬絲直徑越小或薄膜越薄，應力效應越顯著。一般情況下，內(nèi)應力可通過熱處理消除，殘余內(nèi)應力可在長期使用過程中逐漸消除，電阻器的電阻值也會隨之變化，結(jié)晶過程和內(nèi)應力消除過程都會隨著時間的推移而減慢，但在使用電阻器的過程中不可能終止。可以認為，在電阻器工作期間，這兩個過程以近似恒定的速度進行。與之相關的電阻變化占原始電阻的千分之幾
電氣負載的高溫老化：在任何情況下，電氣負載都會加速電阻器的老化過程，電氣負載對電阻器老化的加速作用比溫度升高的作用更為顯著，因為電阻器和引線帽之間接觸部分的溫升超過電阻器的平均溫升。一般情況下，溫度每升高10℃，使用壽命縮短一半。如果過載導致電阻器在額定負載下溫升超過50℃，電阻器的使用壽命僅為正常情況下的1/32。電阻器在10年內(nèi)的工作穩(wěn)定性可通過不到4個月的加速壽命試驗進行評估
直流負載-電解：在直流負載下，電解導致電阻器老化。電解發(fā)生在槽電阻槽中。電阻矩陣中包含的堿金屬離子在槽之間的電場中發(fā)生位移，從而產(chǎn)生離子電流。在有水分的情況下，電解過程更為激烈。如果電阻膜是碳膜或金屬膜，則主要是電解氧化；如果電阻膜是金屬氧化物膜，則主要是電解還原。對于高電阻薄膜電阻器，由于電解，電阻值可能會增加，并且沿著螺旋槽的一側(cè)可能會發(fā)生薄膜損壞。濕熱環(huán)境下的直流負載試驗可以綜合評價電阻基體材料和薄膜的抗氧化性或抗還原性，以及保護層的防潮性能。
