片式多層陶瓷電容器失效是怎么一回事呢？片式多層陶瓷電容器失效有哪些因素呢？按照失效，我們分為內(nèi)部因素和外部因素，如果片式多層陶瓷電容器內(nèi)部或者外部存在某種缺陷，這都會直接影響到片式多層陶瓷電容器產(chǎn)品的電性能以及其可靠性，給產(chǎn)品質量帶來隱患。
我們將內(nèi)部因素分為這3種：空洞、裂紋、分層。
首先我們說說陶瓷介質內(nèi)的空洞，陶瓷電容介質空洞是怎么一回事呢？
1、陶瓷電容介質空洞
導致陶瓷電容空洞的主要原因是因為陶瓷粉料內(nèi)的有機或者無機的污染，燒結過程中火候控制不當，空洞的產(chǎn)生會導致漏電，而漏電又導致器件內(nèi)部發(fā)熱，進一步降低陶瓷介質的結緣性能從而導致漏電增加。該過程循環(huán)發(fā)生，不斷惡化，嚴重時導致多層陶瓷電容開裂，爆炸，甚至燃燒等嚴重后果。
2、燒結裂紋
燒結裂紋常起源于一端電極，沿垂直方向擴展，主要原因與燒結過程中的冷卻速度有關裂紋和危害與空洞相仿。
3、分層
多層陶瓷電容器的燒結為多層材料堆疊共燒。燒結溫度可以高達1000°C以上。層間結合力不強，燒結的過程中內(nèi)部污染物揮發(fā)，燒結工藝控制不當都有可能導致分層的發(fā)生。分層和空間、裂紋的危害相仿，為重要的多層陶瓷電容器內(nèi)在缺陷。
檢測方法：
