如果測試儀非常小心,那么可以采用類似于mil-std-461的測試裝置來檢測共模扼流圈的飽和特性。然而,使用內模探 頭的隱患在于內模探 頭的電流衰減功能。即使達到衰減值,測量的差模分量也可能超過預期的共模分量值。其次,在每個10μf電容器和電源總線之間連接一根導線。為了快速方便地介紹共模扼流圈的功能,可以考慮以下討論:“共模扼流圈鐵芯兩側的磁場相互抵消,雖然本文對共模扼流圈效應進行了直觀的描述,但本質上并非如此。
如果測試儀非常小心,那么可以采用類似于mil-std-461的測試裝置來檢測共模扼流圈的飽和特性。該原理的應用是:測試中使用兩個電流探針,低頻探針監(jiān)測線電流,高頻探針只測量共模發(fā)射電流。采用線電流監(jiān)測器作為觸發(fā)源。然而,使用內模探 頭的隱患在于內模探 頭的電流衰減功能。如果仔細布置繞組布局,可獲得約30dB的差模電流衰減。即使達到衰減值,測量的差模分量也可能超過預期的共模分量值。這個問題可以通過以下兩種技術來解決:一是用示波器串聯(lián)一個6KHz的高階高通濾波器(注意匹配終端阻抗50)。其次,在每個10μf電容器和電源總線之間連接一根導線。為了測量共模輻射,電流探針應該夾在這些承載小線電流的導線附近。
為了快速方便地介紹共模扼流圈的功能,可以考慮以下討論:“共模扼流圈鐵芯兩側的磁場相互抵消,雖然本文對共模扼流圈效應進行了直觀的描述,但本質上并非如此。
參照以下關于麥克斯韋方程的討論:
*假設電流密度j產(chǎn)生磁場H,可以得出結論,附近的另一個電流不會抵消或阻止磁場或其產(chǎn)生的電場。
*類似地,相鄰的電流會導致磁場路徑發(fā)生變化。
*在環(huán)形共模電感的特殊情況下,可以假定每根引線中的差模電流密度相等且方向相反。因此,產(chǎn)生的磁場在環(huán)形磁芯的外 圍必 須為0,而在外部不能為0!