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首頁電子產(chǎn)品動態(tài) 壓敏電阻的失效及劣化

壓敏電阻的失效及劣化

2018年11月05日15:02 

壓敏電阻過電壓在電路系統(tǒng)中頻繁顯現(xiàn),則壓敏電阻就會頻繁行徑以抑制過電壓幅值和吸收釋放電涌能量,這勢必會招致壓敏電阻器的機能劣化。


按照壓敏電阻器失效后的表現(xiàn)情況來看,可以分成三種常見的失效狀態(tài):炸裂壓敏電阻器在抑制過電壓時將會發(fā)生陶瓷炸裂現(xiàn)象,非常明顯。


穿孔電阻器的陶瓷外層將會瞬間發(fā)生電擊穿,出現(xiàn)穿孔狀態(tài)。


劣化實物表現(xiàn)為使用萬用表測試壓敏電阻時出現(xiàn)漏電流增大情況,壓敏電壓顯著下降,直至為零。

壓敏電阻


在壓敏電阻器的應(yīng)用過程中,當其出現(xiàn)性能劣化時,常見的劣化模式有兩種:


開路模式:開路模式主要發(fā)生在MOV流過遠遠超出自身承受的浪涌電流時,通常表現(xiàn)為氧化鋅壓敏電阻本體炸裂,但這種模式不會引起燃燒現(xiàn)象。


短路模式:短路模式大體上可分為老化失效和暫態(tài)過電壓破壞兩種類型。


壓敏電阻存在著制造缺陷,易發(fā)生早期失效,強度不大的電沖擊的多次作用也會加速老化過程,使老化失效提早出現(xiàn)。

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