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首頁(yè)新聞資訊 壓敏電阻失效的表現(xiàn)情況

壓敏電阻失效的表現(xiàn)情況

2018年11月26日15:22 

壓敏電阻也有其局限,若是過(guò)電壓在電路系統(tǒng)中頻繁顯現(xiàn),則壓敏電阻器就會(huì)頻繁行徑以抑制過(guò)電壓幅值和吸收釋放電涌能量,這勢(shì)必會(huì)招致壓敏電阻器的機(jī)能劣化。


按照壓敏電阻器失效后的表現(xiàn)情況來(lái)看,可以分成幾種常見(jiàn)的失效狀態(tài):劣化:實(shí)物表現(xiàn)為使用萬(wàn)用表測(cè)試壓敏電阻時(shí)出現(xiàn)漏電流增大情況,壓敏電壓顯著下降,直至為零。


炸裂:壓敏電阻器在抑制過(guò)電壓時(shí)將會(huì)發(fā)生陶瓷炸裂現(xiàn)象,非常明顯。


穿孔:電阻器的陶瓷外層將會(huì)瞬間發(fā)生電擊穿,出現(xiàn)穿孔狀態(tài)。


在壓敏電阻的應(yīng)用過(guò)程中,當(dāng)其出現(xiàn)性能劣化時(shí),常見(jiàn)的劣化模式有兩種:

壓敏電阻


第一種是開(kāi)路模式:開(kāi)路模式主要發(fā)生在MOV流過(guò)遠(yuǎn)遠(yuǎn)超出自身承受的浪涌電流時(shí),通常表現(xiàn)為壓敏電阻本體炸裂,但這種模式不會(huì)引起燃燒現(xiàn)象。


第二種是短路模式:短路模式大體上可分為老化失效和暫態(tài)過(guò)電壓破壞兩種類(lèi)型。


老化失效:電阻體的低阻線(xiàn)性逐步加劇,此時(shí)漏電流將會(huì)惡性增加且集中注入薄弱點(diǎn),導(dǎo)致薄弱點(diǎn)材料融化,形成一千歐左右的短路孔后。


電源繼續(xù)推動(dòng)一個(gè)較大的電流灌入短路點(diǎn),形成高熱而起火,若壓敏電阻存在著制造缺陷,易發(fā)生早期失效,強(qiáng)度不大的電沖擊的多次作用也會(huì)加速老化過(guò)程,使老化失效提早出現(xiàn)。

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