壓敏電阻阻值與兩端施加的電壓大小有關(guān)，當(dāng)加到壓敏電阻器上的電壓在其標(biāo)稱值以內(nèi)時(shí)，電阻器的阻值呈現(xiàn)無(wú)窮大狀態(tài)，幾乎無(wú)電流通過(guò)。
當(dāng)壓敏電阻器兩端的電壓略大于標(biāo)稱電壓時(shí)，壓敏電阻迅速擊穿導(dǎo)通，其阻值很快下降，使電阻器處于導(dǎo)通狀態(tài)。
當(dāng)電壓減小至標(biāo)稱電壓以下時(shí)，其阻值又開(kāi)始增加，壓敏電阻又恢復(fù)為高阻狀態(tài)當(dāng)壓敏電阻器兩端的電壓超過(guò)其最大限制電壓時(shí)，它將完全擊穿損壞，無(wú)法自行恢復(fù)。
劣化實(shí)物表現(xiàn)為使用萬(wàn)用表測(cè)試壓敏電阻時(shí)出現(xiàn)漏電流增大情況，壓敏電壓顯著下降，直至為零。
炸裂壓敏電阻器在抑制過(guò)電壓時(shí)將會(huì)發(fā)生陶瓷炸裂現(xiàn)象，非常明顯。
穿孔電阻器的陶瓷外層將會(huì)瞬間發(fā)生電擊穿，出現(xiàn)穿孔狀態(tài)。
在壓敏電阻器的應(yīng)用過(guò)程中，當(dāng)其出現(xiàn)性能劣化時(shí)，常見(jiàn)的劣化模式有兩種：
壓敏電阻暫態(tài)過(guò)電壓破壞：指的是短時(shí)間內(nèi)出現(xiàn)較強(qiáng)的暫態(tài)過(guò)電壓使電阻體穿孔，壓敏電阻導(dǎo)致更大的電流而高熱起火，整個(gè)過(guò)程在較短時(shí)間內(nèi)發(fā)生。
