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首頁電子器件常見問題 電解液導(dǎo)致電解電容失效的直接原因

電解液導(dǎo)致電解電容失效的直接原因

2020年12月23日15:29 

  電解液干涸是鋁電解電容器失效的最直接的原因

  電解液干涸的原因

  電解液自然揮發(fā);

  電解液的消耗;

  電解液的揮發(fā)速度隨溫度的升高;

  電解液的揮發(fā)速度與電容器的密封質(zhì)量有關(guān),無論在高溫還是在低溫條件下都要有良好的密封性。

  電解液的消耗

  漏電流所引起的電化學(xué)效應(yīng)消耗電解液,鋁電解電容器的壽命隨漏電流增加而減少。漏電流隨溫度的升高而增加:25℃時(shí)漏電流僅僅是85℃時(shí)漏電流的不到十分之一。漏電流隨施加電壓升高而增加:耐壓為400V的鋁電解電容器在額定電壓下的漏電流大約是90%額定電壓下的漏電流的5倍。

電解電容

  電解液干涸的時(shí)間就是鋁電解電容器的壽命。

  影響鋁電解電容器壽命的的因素

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