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首頁電子器件常見問題 壓敏電阻的過常見劣化模式

壓敏電阻的過常見劣化模式

2018年06月15日11:12 

開路模式:開路模式主要發(fā)生在MOV流過遠(yuǎn)遠(yuǎn)超出自身承受的浪涌電流時(shí)。


通常表現(xiàn)為氧化鋅壓敏電阻本體炸裂,但這種模式不會(huì)引起燃燒現(xiàn)象。


短路模式:短路模式大體上可分為老化失效和暫態(tài)過電壓破壞兩種類型。


老化失效:指電阻體的低阻線性逐步加劇,此時(shí)漏電流將會(huì)惡性增加且集中注入點(diǎn)。

壓敏電阻


導(dǎo)致薄弱點(diǎn)材料融化,形成1KΩ左右的短路孔后,電源繼續(xù)推動(dòng)一個(gè)較大的電流灌入短路點(diǎn),形成高熱而起火。


研究結(jié)果表明:若壓敏電阻存在著制造缺陷,易發(fā)生早期失效,強(qiáng)度不大的電沖擊的多次作用也會(huì)加劇老化過程,使老化失效提前出現(xiàn)。


暫態(tài)過電壓破壞:指短時(shí)間內(nèi)出現(xiàn)較強(qiáng)的暫態(tài)過電壓使電阻體穿孔。


導(dǎo)致更大的電流而高熱起火,整個(gè)過程在較短時(shí)間內(nèi)發(fā)生。


壓敏電阻失效后的表現(xiàn)情況來看,可分為三種常見的失效狀態(tài):劣化、炸裂和穿孔。

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